【转载】如何用大的析出相的条纹来侧TEM样品的厚度

需要登录并加入本群才可以回复和发新贴

[未解决]本主题悬赏可用分 1

ayanyang[使用道具]
五级
Rank: 5

UID 119245
精华 0
积分 1904
帖子 3448
信誉分 100
可用分 5207
专家分 0
阅读权限 255
注册 2014-1-7
状态离线

小中大

小弟见一篇文献提到是用基体中大的析出相的条纹来测样品的厚度,小弟不是很懂,请问大家有谁用过或者看过这个方面的,求指教. 曾经想用CBED,但是对于统计析出相的单位个数来说工作量是实在是太大. 望各位大侠予以指教,不胜感激!

但是[使用道具]
五级
Rank: 5

UID 119239
精华 2
积分 1885
帖子 3301
信誉分 104
可用分 3635
专家分 10
阅读权限 255
注册 2014-1-7
状态离线

小中大

你说的是等候条纹吧？消光长度乘以条纹数目来粗略判断厚度？

nsdm[使用道具]
五级
Rank: 5

UID 119716
精华 2
积分 2321
帖子 4253
信誉分 104
可用分 5879
专家分 0
阅读权限 255
注册 2014-1-19
状态离线

小中大

建立lz去看看黄孝瑛的电子衬度分析原理与图谱
具体的分析方法如下