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不知道你所测试的样品以及测试条件,如果像你说的越来越高的话,若使用的是显微系统可以用光镜看看样品有无被烧坏,如果是这样的话可以考虑换一个点降低激发功率再采集;如果还是老样子的话就要考虑样品本身的荧光背景干扰,换个激发波长(NIR UV)再试;
Origin可以做基线校正,Input data——Plot——Line——Tools——Baseline
调节Automatic后框中数字——Create Baseline,如果生成的Baseline不满意可以选择Modify用鼠标来调节点的位置,然后Subtract就可以将基线拉平了。不过最好Smooth以后再进行基线校正。 试试看吧