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标题:[未解决]【转载】【求助】有关XRF定量测量涂层化学成分的问题？

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
红旗渠[使用道具]
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发表于 2016-3-25 20:37 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】【求助】有关XRF定量测量涂层化学成分的问题？

我用 波长色散型XRF测了一个涂层的化学成分，涂层厚10μm左右，主要测的元素是Ti、N、O、C。涂层里面应该含有N元素的，但是结果中却没有N元素！不知是怎么回事？
        另外一般用XRF测涂层的化学成分精度高吗？对所测样品表面平整要求高吗？ 我的试样很小，样品太大了，所以测量的时候是用三个样品绑在一起测量的，这对结果的影响大吗？
不知哪位高手能指点一二呀？不甚感激！
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small2011[使用道具]
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发表于 2016-3-25 20:38 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
C,N,O属于超轻元素，不知道楼主是用的什么晶体？
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红旗渠[使用道具]
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发表于 2016-3-25 20:38 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

回复 #2 small2011 的帖子

是硬质合金基体上的TiCNO涂层
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发表于 2016-3-25 20:39 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

回复 #3 红旗渠 的帖子

他问你的荧光仪上配的啥样的晶体测CNO的！！
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发表于 2016-3-25 20:39 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

回复 #2 small2011 的帖子

用的是LiF  后来我又测了一次 测出N元素来了  不过我测出来的C N的含量都很高  不知道是我试样本身的含量高 还是仪器测这种轻元素都会偏高?
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small2011[使用道具]
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发表于 2016-3-25 20:40 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

回复 #5 红旗渠 的帖子

用这个晶体应该不行。要用专用的人工合成晶体，在前面我们已经讨论过了，你可以去查阅一下。
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