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标题:[未解决]【转载】【求助】求教XRF可否用于定量SiO2,多谢!

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
小红[使用道具]
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【转载】【求助】求教XRF可否用于定量SiO2,多谢!

求教各位专家,是否通过XRF可以测出样品(SiO2纯度在95%以上的固体粉末)中的SiO2含量呢?多谢!
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龙泉[使用道具]
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这种样品是完全可以用XRF实现的,选择一组合适的标样,压片也行,熔融法也行,熔融法准确度更高一点,并且在标样的选取上也更灵活一点。
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小红[使用道具]
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回复 #2 龙泉 的帖子

谢谢您的指教!请问误差会有多大呢?
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龙泉[使用道具]
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采用熔融法制样,以本人使用XRF和做硅石的经验,完全可控制在国标允许的误差范围内,不知你的误差要求是多少?
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small2011[使用道具]
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这个含量段的,制样情况标准的话,可以到0.1%。
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坚持2011[使用道具]
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学习了,谢谢
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tomm[使用道具]
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95%+的石头,精度要求+-0.1% 有难度阿 理论上含量越高,仪器的误差也会放大。0.5%+-能接受哇?
    不知道其他人怎么觉得的。
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ayanyang[使用道具]
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同意楼上的观点,0.1%有难度
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坚持2011[使用道具]
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回复 #8 ayanyang 的帖子

你一般能做到多少?.....
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小熊猫[使用道具]
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回复 #3 小红 的帖子

压片法肯定误差比较大。最好用熔片法,而且熔片前要确保样品颗粒足够细!!!
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