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标题:【求助】测试薄膜的XRD导致样品的峰被压得看不见了

兔子[使用道具]
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【求助】测试薄膜的XRD导致样品的峰被压得看不见了

不知道大家的在测试薄膜的XRD会不会带出衬底的信息,目前我测试的时候总是衬底的峰太强,导致样品的峰被压得看不见了!!郁闷啊。。有没有谁有比较好的解决方法啊、、
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malong[使用道具]
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【回复】

看是什么基底了啊,一般用的硅片基底是特定晶面,没有峰。但是如果是氧化铝基底就会有。
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yayayu[使用道具]
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【回复】

我的是硅衬底哇,在111方向的。。刚好在我样品峰的附近。。直接给压没了
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danzi[使用道具]
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【回复】

硅片的衬底怎么会没峰呢?!!!!除非是非晶的衬底。
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rrra6[使用道具]
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【回复】

我觉得你可以利用软件对硅的峰处理一下,毕竟只是你薄膜的峰被压的很低。你在作图的时候把Y轴坐标范围选在你薄膜峰强的范围内就好了。
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今生如此[使用道具]
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【回复】

你可以把薄膜挂下来
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【回复】

做的是薄膜啊。。就在200nm左右,,不能太厚呢:tuzi17::tuzi17:
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yazi[使用道具]
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【回复】

对啊,,硅衬底一般都有峰的
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xgy412[使用道具]
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【回复】

我用jade处理了,,但由于衬底峰和薄膜特征峰相距很近,所以效果还不是很好哇
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QQ爱[使用道具]
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【回复】

是不是你的薄膜太薄啊?我以前也遇到过这种情况,薄膜太薄,而且不致密,容易出现基板的峰
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