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标题:[未解决]【转载】：【求助】X射线荧光光谱仪可以做定性分析吗？

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
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发表于 2016-4-11 16:19 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
不仅仅是只找最强峰，最好能多找几条特征峰。以便做更准确的判断。

现在XRF定性分析用半定量软件足以胜任。
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vbnm[使用道具]
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发表于 2016-4-11 16:20 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
是不是求分贴？哈哈 玩笑啊。

XRF当然可以定性分析，而且可以做得比较好。不过各家仪器公司的半定量软件可能不太一样，操作不太一样。楼上几位答复的很全面了。
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艰苦奋斗[使用道具]
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发表于 2016-4-11 16:20 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
是的，半定量软件可以很轻松解决这个问题。如果不使用半定量软件，大家又是怎么操作的呢。分享一下。
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风往尘香[使用道具]
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发表于 2016-4-11 16:21 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
压饼 或者熔融
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jiushi[使用道具]
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发表于 2016-4-11 16:23 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
传说中的无标样分析嘛
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adg[使用道具]
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发表于 2016-4-11 16:23 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
这不是传说。这个是事实。
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发表于 2016-4-11 16:24 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
按照谱峰的最高能量去找对应的元素就可以了！
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发表于 2016-4-11 16:26 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
问题：1  有没有可能存在，但扫不出来呢？存在的量至少有几十个PPM以上（重元素），有扫不出来的可能吗？



          2  如果只扫出来该元素的Kb线，却没有看到Ka线，可以断定该元素不存在吗？（但我怀疑该元素应该存在）如何进一步确定？
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iop[使用道具]
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发表于 2016-4-11 16:26 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
是的，这个方法还是挺直观方便的。
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iop[使用道具]
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发表于 2016-4-11 16:27 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
1. 有可能，ppm量级的元素，能谱如果不加滤光片，通常会扫不出来的。



2. 这种情况不会发生。一般来说，Ka是Kb强度的5倍到10倍。所以能够看到Kb，就一定会有Ka。至于你说的情况，肯定是其他元素的谱峰干扰了目标元素的Kb，致使你误认为这是目标元素的Kb。
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