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标题:[未解决]【转载】：【求助】用AMPTEK的探测器的问题

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
teddy[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:29 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】：【求助】用AMPTEK的探测器的问题

在分析的时候总是计数率低而死时间又比较大 怎么解决呀 望高手指点
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vbnm[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:30 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
如果仪器用的模拟多道只能降低管压或者管流，让记数降下来，一般模拟的到一万左右。如果是数字多道的话可以调节成型时间，堆积时间，降低管压，管流等方法解决，一般数字多道根据算法不一样，A算法的可以到个8，9万，B算法的可以到个3，4万左右，其实A，B两种的效果一样
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艰苦奋斗[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:30 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
如果是波长色散的多道，由于处理比能量色散的要求简单些，记数可以几十万，甚至上百万，
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风往尘香[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:30 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
你说的计数率是ICR还是OCR？
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jiushi[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:31 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
ICR OCR 是什么意思？ 我接触这块时间不长，我说的计数率就是经过多道后在屏幕上呈现的谱峰的计数率  也就是说是在某一道址所接收到的粒子数目  大概是这个意思
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adg[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:31 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
WDXRF，计数率应该是KCPS
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发表于 2016-4-11 17:32 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
ICR=input count rate

OCR=output count rate



一个指输入计数率，一个指输出计数率，我想这个应该有技术手册之类的资料，总归应该有说明的吧。你弄明白ICR和OCR之间的关系，就能明白死时间和计数率之间的关系了
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happydream[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:32 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
我也碰到了相似的问题 哪位高人给指点一下 我在测试的时候发现输入计数率很高 但是输出计数率为0或者极低 以前测试的时候还是好好的
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iop[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:33 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
一般这种情况为探测器遇到特别大的干扰或是探测器本身数据放大处理模块发生的问题，前者的可能性要大于后者导致每秒钟内进入探测器的强度过大，导致探测器死时间接近100%，通俗点就是探测器罢工了，可以做简单的冷处理，关闭电源五分钟，重新开机检查情况，可以采取关闭光管，高压，逐步排除干扰产生的原因，也可以直接联系生产厂商，协助处理问题。
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jiankufanhan[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:33 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
能做的是关机，整机断掉电源几分钟，然后在开机，再有问题联系厂家处理，硬件或参数肯定有问题了
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