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标题:[未解决]【转载】：【讨论】压片前的研磨如何防止引入污染

  [未解决]本主题悬赏 可用分 1  
艰苦奋斗[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:46 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】：【讨论】压片前的研磨如何防止引入污染

最近定性扫描一个纯物质中所含的杂质，选取了几个供应商的产品，想比较下这几家产品中所含杂质及其相对含量大小，



但用玛瑙研钵磨粉担心引入Si，用碳化钨球磨有可能引入W，所以比较头疼，问问大家有没有这方面的经验和好的意见？
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风往尘香[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:47 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
看来你的材料比较硬！



什么状态？粉末还是块状
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jiushi[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:47 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
比较脆的颗粒
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adg[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:47 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
那不行用材料包裹下 仿制污染到样品 不知道锡箔纸行不行
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ass[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:48 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
包着用研钵研磨？
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happydream[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:48 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
是的 不知道此方法是否可行
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iop[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:49 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
如果不硬，我感觉不用考虑引入污染的问题吧？
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jiankufanhan[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:49 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
但要磨成粒度一致吧，我是要测相对含量大小的，比较cps高低。否则粒度效应会影响荧光强度的
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nmn[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:50 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
分析纯物质中的杂质，以XRF的恐怕有些难度，如果要定量分析用粉末压片法就更不靠谱了。
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shuishui[使用道具]
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发表于 2016-4-11 17:50 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
楼主可以实验看看，试样没那么容易被碳化钨污染，即便有的话，XRF扫描估计也看不到对应的峰，况且碳化钨引入的杂质也不仅仅是W，碳化钨也掺杂有其他金属。真要探讨碳化钨模具对试样的污染，估计得搬出MS吧。
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