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标题:【求助】表征手段偏重哪些方面

青青草[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:46 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【求助】表征手段偏重哪些方面

如题：主要有两个问题：
1.关于聚合物表界面的表征都要哪些比较先进的手段啊，比如说光散射，原子力显微镜等。
2. 这表征手段偏重哪些方面啊，表征出来的尺寸在什么级别（如50nm， 20μm等）。
请高手赐教，谢谢！
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aaby[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:46 资料 个人空间 短消息  加为好友 QQ

 小中大

【回复】

1.不知道你主要侧重的是哪方面性能的考察，动态光散射（DLS）大多用来粒子粒径大小的检测；原子力显微镜主要用来看形貌，可以输出三维图像的
2. 动态光散射（DLS）一般能测10nm—3μm,
   原子力显微镜测出的尺寸和检测器有很大的关系，不同的检测器检测的范围是不一样的，100nm是可以实现的，国内原子力显微镜主要是本原，国外的仪器好像可以实现动态的检测。
我不是高手，回答完毕。
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xgy412[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:47 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

如果想看形貌变化的话，如果材料是无机的可以用SEM来看；如果是高分子方面的话就不建议SEM，因为电压高了可能会烧掉的，可以用AFM。
AFM看形貌还是可以的，制样也简单，关键是你要联系到有这个仪器，如果能自己操作就更完美了。
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daomei[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:47 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

要是看表面形貌的话用sem不错  楼上说的高分子被烧坏 我做的聚吡咯 PS  APM
都是没有问题的
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无怨无悔[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:48 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

可以用TEM测试表征，其实SEM和AFM测试一下可以相互验证，呵呵，这是我觉得的，回答完毕，希望对你有帮助。
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p1900[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:48 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

XPS可以做变角，不同深度的元素表征，几到十纳米左右，现在研究表界面最先进发文章最多的可能是SFG吧，和频振动光谱，最可看最表层单分子组成及构象。
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zouyou[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:48 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

sem?
算了吧
TEM更直观
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wwwh[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:49 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

你好！我想请问下，你是自己聚的吡咯吗，还是买现成的？自己聚的话，照SEM,基底用的是硅片，事先怎么聚上去啊？
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yayayu[使用道具]
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发表于 2016-4-12 11:49 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【回复】

自己做的 sem我是拿出去测的 做出的样品送过去就可以了
不知道您说的是什么意思呢
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