X-荧光

现在有个塑料件 有银白色金属光泽的镀层 手头有手持式的XRF  请问能不能用来测量镀层金属的成分。镀层很薄的，有点类似于中性笔笔头那种 只是大致看一下 不用很精确的 手头只有XRF 请问行不行 可靠性如何？

似乎不可以，会穿透镀层，如果塑料件中目标元素含量很高，而镀层不含有会误判

适当的条件和合适的方法是完全可以分析镀层厚度和成分的。

有些难度呢

楼主只想做个定性分析的话，只要有相应的软件的是能测的。直接测可能如楼上所说会被穿透的。

首先，你的仪器软件含有镀层检测功能吗？如果有的话，你还要知道镀层成分是什么，选择相应的条件，应该是可以的

应该不行，当然了这个主要看你的XRF射线穿透厚度。
最好和厂家联系一下，确认好厚度。一般的XRF（不是便携式）30微米左右。
一般的镀层只有几个微米。欧盟给出的平均镀层厚度约为2.4微米。

我们公司是专业做手持式X荧光光谱仪的，主要有Real 800,Real 900,和Packray系列的产品，我们公司简介：
  百学仪器是专业便携式X 射线荧光光谱仪生产厂家。其产品主广泛应用于ROHS WEEE，地质采矿，尾矿分析，合金牌号分析，土壤，环境，考古，木材，电子，医疗，电力石油，玩具以及刑事证据鉴定等各种不同领域产品的日常分析。百学仪器核心经营理念在于满足客户应用需求的快速反应，为客户提供符合成本效益及先进的技术解决方案，百学仪器的成功正源于这样的一个沟通渠道，他使我们与需求保持最亲密的联系，随着我们的产品在全球范围内广泛的使用，便携式光谱仪产品将会在更宽，更广的范围内满足客户不同层面的需求。
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我觉得有个办法可能可以进行简单的定性分析，直接测试的话，由于塑料件的荧光散射可能会把镀层金属激发的特征荧光给淹没掉，所以直接测试是不行的，不过你可以试一试对比法，你首先用XRF对准镀层金属进行测试，测试时间稍微长些，记住时间，然后把镀层刮掉，在相同的位置用相同的时间再测试没有镀层的塑料件，然后对比两个谱图，查找细微的地方，在两个谱图中，绝大部分谱图是一样的，在镀层金属的特征X荧光峰地方可能会有些许不同，仔细观察，然后对比金属元素能量值，确定镀层金属。
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