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标题:[未解决]【转载】：【讨论】四探针测试金属银膜不稳定的情况

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风往尘香[使用道具]
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发表于 2016-5-2 16:58 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大

【转载】：【讨论】四探针测试金属银膜不稳定的情况

四探针测试自制的金属银纳米线薄膜时，出现一个现象，随着探头压力的增加，电阻率发生相应的变化，应该是压力越大，电阻率越大。我测试硅片的时候就很稳定，不知道是什么原因造成的。大家有没有其他材料有这种情况呢
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jiushi[使用道具]
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发表于 2016-5-2 17:00 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
貌似不是荧光的问题，搞错了地方？
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adg[使用道具]
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发表于 2016-5-2 17:00 资料 个人空间 短消息  加为好友 

 小中大
什么原因？为什么？求大神
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