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标题:SGS金属镀层测试服务
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cadenzhang
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发表于 2016-11-17 14:10
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SGS金属镀层测试服务
SGS
金属镀层测试服
务
关键词:镀层厚度
镀层成分分析
样品表面污点分析
库伦法
金相法
涡流法
X
射线荧光法
电子探针
能谱分析仪
异物分析
SGS
针对镀层方面提供全面的检测服务
镀层厚度测试方法主要是库伦法,金相法,涡流测量法和
X
射线荧光法
库伦法
测量范围:
0-35um
误差为±
10%
精度:
0.01um
适用范围:可测量一层镀层金属厚度、多层镀层金属厚度、多层镍厚度和电位差、合金镀、塑料上各种电镀金属,表面光滑,最少有
3mm
²的平坦测试面
常用测试标准:
ASTM B764-04(2009)
、
ASTM B504-90(2011)
、
GB/T 4955-2005
、
ISO 2177-2003
金相法
测量范围:
1-100um
精度:
0.1um
适用范围:对样品尺寸没有太大的要求
常用测试标准:
GB/T 6462-2005
、
ASTM B487-1985(R2013)
、
ISO 1463-2003
、
EN ISO 1463-2004
、
JIS H8501-1999
、
AS 2331.1.1-2001
涡流测量法
测量范围:
0.5-200um
精度:
0.1um
适用范围:可测量样品涂、镀层的厚度,样品要求表面平整,测试面相当平,误差就小
常用测试标准:
GB/T 4957-2003
、
ASTM D7091-13
X
射线荧光
XRF
精度:
0.01um
适用范围:属于无损测量,对样品没太大要求
常用测试标准:
GB/T 16921-2005
、
ISO 3497-2000
、
DIN EN ISO 3497-2001
、
ASTM B568-1998(R2014)
ASTM A754-2011
、
JIS H8501-1999
镀层成分分析和样品表面污点分析
设备名称:电子探针和光电子能谱仪联用分析
测量精度:
0.001%
适用范围:金属及其非金属表面涂、镀层的成分分析
,
表面污点、异物分析
采用精密分析设备电子探针,对各层成分金相分析,取样方式为切面法,对各层金相高倍放大进行点和面的分析,最薄的覆盖层厚度可以到
0.1um
,优点是其分析精度高,采样直接有代表性。
光电子能谱仪仪和电子探针联合运用,还可以对样品表面的点分析和面分析,对比分析可以知道材料表面污染造成的原因。
SGS
提供上述测试标准的检测服务,详情请咨询
SGS:
联系人:张先生
电话:
+86-592-5762376/+86 138 0604 1987
传真:
+86-592 576 5380
E-Mail: Caden.Zhang@sgs.com
地址:中国·福建省厦门市火炬(翔安)产业园翔虹路
31
号
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文章来源
: 原创
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实验室仪器
[时间:2016-11-17 14:11]
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