网络讲座 AFM图像离线分析

网络研讨会:AFM图像离线分析      

内容简介
        原子力显微镜(AFM)被广泛用于科研和工业界各领域,涵盖了聚合物材料表征,集成光路测量,材料力学性能表征,细胞表面形态观察,生物大分子的结构及性质,生物传感器,分子自组装结构等领域的监测等各类科研和生产工作。本次讲座我们将重点介绍采用Bruker NanoScope Analysis离线处理软件对所获取的 AFM图像进行后期处理以及数据分析。
        本次讲座的内容主要包括:
       1、介绍NanoScope Analysis软件中图像处理类功能的原理以及使用方法,包括Flatten, Erase, Plane Fit, Lowpass等。
       2、介绍NanoScope Analysis软件中数据分析类的功能,包括Section, Roughness, Step, Particle Analysis等。
主讲人:殷豪,博士,布鲁克高级技术支持工程师,客户培训讲师。

        注册报名http://www.antpedia.com/webinar/888368347.html

        讲座时间:2017年0303日 上午 10:00

        无需来回奔波,不受地域限制,只需1台电脑网络,即可免 费参加会议,方便、快捷、高效!


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