光谱分析

无土栽培具有省地、省时等诸多优点，是农业生产中发展最快的技术之一，基质选择是无土栽培成功与否的关键之一。因此，对基质参数的快速测定具有重要意义。文章采用近红外光谱技术定量测定基质中含水率、电导率和pH值，利用基线校正和微分方法对光谱进行预处理，在不同的波段范围建立不同的偏最小二乘(partial least squares，PLS)回归模型。研究发现：光谱经基线校正后，漂移现象得到明显改善;近红外光谱可用于基质中电导率的定量检测，用于预测基质电导率的最优PLS模型的相关系数r、交互验证均方根误差(root mean square error of cross-validation，RMSECV)、相对分析误差(relative percent deviation，RPD)和检验偏差(Bias)值分别是0.923 6，634 μs·cm-1，3.11和19.8 μs·cm-1，使用的最佳回归因子是7，建模的最优波段范围是4 246.7～7 502.2 cm-1。近红外光谱技术对于含水率的预测也是可行的，但模型精度有待进一步提高，而近红外光谱无法预测基质中的pH值。