翡翠成分、结构和矿物组成的无损分析

利用便携式能量色散型X射线荧光(portable energy-dispersive X-ray fluorescence,PXRF)、外束质子激发X射线(external beam proton induced X-ray emission,PIXE)、X射线衍射(X-ray diffraction,XRD)和激光拉曼光谱(laser Raman spectroscopy,LRS)对12块样品进行了成分、结构和矿物组成分析。结果表明,PXRF和PIXE的分析结果有较好的可比性,样品主要由较纯的硬玉组成,次要元素含量较低。1块样品含少量绿辉石,一块样品主要由绿辉石组成。硬玉的Raman特征峰位于201,372,698,985,1 037 cm-1,绿辉石的特征峰位于680和1 017cm-1。利用Raman光谱测试样品的裂隙处,发现3块样品含白蜡,1块样品含环氧树脂。白蜡的Raman特征峰位于2 846和2 880 cm-1,环氧树脂的特征峰位于2 924和3 065 cm-1。无损分析技术在翡翠中的应用拓展了样品的研究范围,为翡翠的进一步研究、鉴定和分级提供了技术支持。