外显子组测序是严重智障患者的有效诊断策略

智力障碍具有广泛的临床和遗传异质性特征，因而其主要的致病原因尚未明确。荷兰人类基因组研究院Veltman博士等人进行了深入研究发现，新发突变是智障的一个重要致病原因；外显子组测序是发现这些突变的有效诊断策略。论文发表于国际权威杂志NEJM 2012年10年1日在线版上。

研究人员评估了智障患者并排除了已知致病因素。纳入100例IQ 低于50的患者以及IQ正常的父母，并对超过21000个基因的编码区进行了测序。研究人员对运用数据分析程序对新发突变，常染色体隐性突变，X-性连锁突变等进行了鉴定和分类。此外，研究人员还利用高通量重排技术对765例智障患者（已确诊）的备选基因进行了确认。试验中所有经分子遗传学家和临床医师完成的突变评估都是在患者知情同意的基础上完成的。

结果显示，研究人员在100例中的53例受试者中鉴定出79项新发突变。其中有10项新发突变和3项X-性连锁（母性遗传）突变，试验中13例患者发现了这些先前经报道可能会影响到智障基因的功能突变。22例患者中发现了后选基因库中存在潜在的致病性新发突变。在已确诊的有类似表现型的患者人群中，研究人员从备选基因库中共鉴定出3项此前未发现的新发突变，这证实了这些基因的突变可能是智障的病因之一。在观察人群中并未发现致病性常染色体隐性遗传突变。这样，试验中总诊断收益率为16%，大部分涉及到新发突变。

由此我们可以得出结论，新发突变是智障的一个重要致病原因；外显子组测序是发现这些突变的有效诊断策略。