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【求助】测量奥氏体晶粒度的的标准
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发表于: 2015-4-09 11:10 作者: 女儿情 来源: 分析测试百科网
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【求助】测量奥氏体晶粒度的的标准
国标有专门测量奥氏体晶粒度的的标准,具体标准号可查询下,一般将显微镜调200倍,将腐蚀好的显微组织与标准中的图片进行对比,可得到晶粒等级。
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【求助】测量奥氏体晶粒度的的标准
我也来说两句
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wwwh
(2015-4-09 11:11:09)
精确度是计算的截点或截矩的函数,通过有效的统计结果可达到士O. 25 级的精确度。截点法的测量结果是无偏差的,重现性和再现性小于士 0.5 级。对同一精度水平,截点法由于不需要精确标计截点或截矩数,因而较面积法测量快。
截点法是通过计数给定长度的测量线段(或网恪)与晶粒边界相交截点数P 来测定晶粒度。
截点法较面积法简捷,此方法建议使用于动计数器,以防止计数的正常误差和消除预先估计过高或过低的偏见。
对于非均匀等轴晶粒的各种组织应使用截点法,对于非等轴晶粒度,截点法既可用于分别测定三个相互垂直方向的晶粒度,也可计算总体平均晶粒度。
mimima
(2015-4-09 11:11:45)
截点法有直线截点法和圆截点法。圆截点法可不必过多的附加视场数,便能自动补偿偏离等轴晶而引起的误差。圆截点法克服了试验线段端部截点法不明显的毛病。圆截点法作为质量检测评估晶粒度的方法是比较合适的。
冰激凌
(2015-4-09 11:12:17)
搜索下国标GB/T 6394
里面有详细介绍
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【求助】测量奥氏体晶粒度的的标准
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wwwh (2015-4-09 11:11:09)
截点法是通过计数给定长度的测量线段(或网恪)与晶粒边界相交截点数P 来测定晶粒度。
截点法较面积法简捷,此方法建议使用于动计数器,以防止计数的正常误差和消除预先估计过高或过低的偏见。
对于非均匀等轴晶粒的各种组织应使用截点法,对于非等轴晶粒度,截点法既可用于分别测定三个相互垂直方向的晶粒度,也可计算总体平均晶粒度。
mimima (2015-4-09 11:11:45)
冰激凌 (2015-4-09 11:12:17)
里面有详细介绍
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