【求助】SEM样品制备相对简单，多数篇幅介绍原理。

最新回复

• wwwh (2015-6-03 09:36:08)

  TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM一般是做面扫描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。

• 大花猫bb (2015-6-03 09:36:43)

  其实本质上还是原理不一样，造成应用上的差别
  另外补充一下
  做TEM的样比SEM的样要复杂很多~

• qinqinai (2015-6-03 09:37:20)

  TEM是做材料微观组织、晶体结构分析；
  SEM主要用于表面形貌观察，亦可通过能谱检测局部元素组成与含量

• wawa11 (2015-6-03 09:38:00)

  TEM是做材料微观组织分析，比如说孪晶啊、马氏体啊、位错啊等等，SEM一般是做面扫描，也可以配能谱仪进行能谱分析，比如说断面形貌，组织观察，元素百分比等等。
  补充：透射电镜做晶体结构分析较好，扫描电镜做表面形貌和成分分析较好。

• rrra6 (2015-6-03 09:38:32)

  透射电镜是利用透射电子来成像的，为此样品制作比较麻烦，需要做的很薄。可以TEM检测来判断材料的内部空间结构。比如得到衍射花样，再通过标定，可以得到其为面心，体心，是否有孪晶等。
  扫描电镜主要是利用二次电子成像，以获取材料的表面形貌。通常扫描的附件会带有能谱仪，通过特征射线获取材料的成分分布情况，另外扫描电镜可以观察端口形貌。