【求助】拉曼光谱测试中发现基线过高

字体: 小中大 | 打印发表于: 2016-1-15 20:17 作者: yazi 来源: 分析测试百科网

拉曼光谱测试中发现基线过高，请问得到的数据是用软件去除还是直接减去一个数值。这种现象是由于荧光性引起的么？

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双子座 (2016-1-15 20:17:59)

你可以选择在机器的软件上进行baseline，或者回来以后用origin进行baseline，都可以。所谓基线过高不一定是荧光，也可能是你选用的增强基底造成的，但你这个图显然没用增强，应该是本体。不知道你具体的测试条件，但不管怎样，你还可以在测试时将机器bining factor 选为1，信号足够的情况下降低激光功率，减小采集时间等。
灵魂 (2016-1-15 20:18:21)

~~因为实验是在别的实验室做的，所以现在手头上只有数据了···没办法在重新测，那我现在用origin的baseline就可以处理是么··能麻烦你说下具体操作过程么
8899 (2016-1-15 20:18:43)

矫正基线就可以了，肯定不是荧光
yayayu (2016-1-15 20:19:04)

不知道为什么楼上的人那么肯定呢~~~~ 楼主扣基线前请务必确认基线产生的原因！！粉体样品弄多一点，不就可以避免基底的干扰了么？？严谨至上
qinqinai (2016-1-15 20:19:32)

换波长激发再测一次，确定有什么引起，如果换波长激发还有，并且样子差不多就不是荧光
aaby (2016-1-15 20:19:56)

你好，我也遇见和你一样的问题了，请问你的基线拉平了吗？是怎样拉平的？:hand:
n111 (2016-1-15 20:20:18)

有很多算法呀，推荐SCARF，卷积平滑算法+Rolling Circle Filter，就是有点麻烦，要自己编程