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绝对精品：二次离子质谱分析（SIMS）讲义

字体: 小 中 大 | 打印 发表于: 2010-10-16 11:23    作者: amelican_beauty    来源: 分析测试百科网

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绝对精品：二次离子质谱分析（SIMS）讲义
　　二次离子质谱

　　(Secondary Ion Mass Spectrometry 简称 SIMS)

　　一、简介

　　二、离子与表面的相互作用

　　三、溅射的基本规律

　　四、二次离子发射的基本规律

　　五、二次离子质谱分析技术

　　六、二次离子分析方法

　　七、二次离子质谱的研究新方向

　　八、总结

　　SIMS的主要特点：

　　1. 具有很高的检测极限

　　对杂质检测限通常为ppm，甚至达ppb量级

　　2. 能分析化合物，得到其分子量及分子

　　结构的信息

　　3. 能检测包括氢在内的所有元素及同位素

　　4. 获取样品表层信息

　　5. 能进行微区成分的成象及深度剖面分析


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最新回复

  • uwku58h (2010-10-16 14:43:58)

    资料不错，谢谢共享！

  • thereyoube (2010-10-16 14:45:06)

    支持分享，一起进步。。

  • hongyankongjian (2012-5-18 14:38:47)

    下载学习一下，谢谢分享
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