【求助】我想确认一下膜的厚度及膜在孔内的覆盖情况

在AAO模板孔内镀了两层膜,AAO是带有铝基的单通模板,孔径为50个nm,孔深1μm,所镀膜层厚度约为10nm(只是理论估计),我想确认一下膜的厚度及膜在孔内的覆盖情况,如何在不损伤膜的质量的情况下获得比较好的断面?求高人解答。
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  • 跳跳哈里 (2015-8-26 11:56:18)

    掰断或碾碎,在电镜下找断面看
  • 蓝色雨梦 (2015-8-26 11:56:49)

    这个恐怕做不到,模板的铝基和氧化层差不多厚,铝的延展性很好,怎么掰断或碾碎
  • PP熊 (2015-8-26 11:57:19)

    是可以的,现在液氮里冻一下再掰断
  • wwwh (2015-8-26 11:57:57)

    直接扳断然后贴在竖着的样品台上,如果要科学一点,就在液氮里面脆断,但是我觉得没那必要
  • zouyou (2015-8-26 11:58:31)

    带基板的确实有点麻烦,液氮脆一下掰断试试吧,要还不行可能要用激光啥的切开了
  • jishiben (2015-8-26 11:59:07)

    可以采用激光切割,比较科学和可靠,一般做TEM的实验室都有这个,SEM实验室很少有这个
  • huali (2015-8-26 11:59:41)

    方法一:将膜(基面)用502胶或者其他万能胶粘在玻璃片上(或者其他硬质易掰断的材料如PMMA板、硅片),在玻璃背面用玻璃刀划一道,再掰断,AAO也就一起断裂了。
    方法二:将膜浸入液氮,等几乎无气泡逸出后,用镊子的直边掰断。
    方法三:将方法一中粘有AAO膜的基板,按方法二在液氮中掰断。
    。。。
    另外,最平整、无应力的制备方法应该是离子束抛光。不过你这个应该用不着。
  • 青青草 (2015-8-26 12:00:14)

    用聚焦离子束FIB制样,可以保证制备到含孔的TEM样品,非常方便。
  • 小妖精@ (2015-8-26 12:00:56)

    哈 你那儿常用FIB做TEM的样品吗?有机的能做不? 我正找呢。 有的话交流下哈。
    楼主是问SEM制样嘛,用于SEM的有专用的离子束抛光机,比FIB还是经济实惠多了。
  • aaby (2015-8-26 12:01:31)

    单纯为了看氧化铝的断面直接去掉背铝就是,饱和氯化铜或者氯化锡,然后掰碎
  • 大大 (2015-8-26 12:02:07)

    我并不是做PPA的,我是在PPA的基础上做一些其他工艺,不过我这里有一个PPA的群,不知道你有没有兴趣
  • 小女人@ (2015-8-26 12:02:42)

    模板有200微采用方法一也能做到吗?
  • 灵魂 (2015-8-26 12:03:19)

    聚焦离子束自然是好,可惜自己这里没设备
  • PP熊 (2015-8-26 12:03:55)

    嗯,楼上的放上我都用过,也做过很多其他的尝试,后来发现,其实最简单和有效的方式是:在做SEM的时候,找个截面的放样台,将样片用剪刀剪成长条型的,然后一端贴在放样台的表面,随后用镊子将样片另一端掰弯贴到放样台的侧壁上(足见,你的样片大小要能覆盖住放样台的一部分表面和截面)。然后测试的时候,低倍下找裂缝,可以根据你氧化层的厚度,确定你需要找的裂缝大小,之后再高倍拍摄截面形貌就行了。
  • efp (2015-8-26 12:04:35)

    其实这样的方法我也试过,我是直接将样品弯折了180°,然后将其粘贴在样品台上观察的。你的意思我基本理解了,我想知道的是弯折的角度大概多大,样品的厚度是否有影响?你在这方面经验丰富
  • 蓝色雨梦 (2015-8-26 12:05:07)

    这个方法有点问题,就是剪刀剪样品的时候有可能,注意是有可能,导致结构变形。
  • jishiben (2015-8-26 12:05:42)

    我这FIB和TEM都有,不过做电子材料的。以前没有接触过有机的。不过别的FIB能做到的我都应该能做到。要学习下,哈哈哈哈。